Рентгенівське дифрактометричне дослідження композитів HDPE/GaAs та HDPE/GaAs<Te> - Гаджієва, Н.Н.; Ахмадова, Г.Б.; Мелікова, С.З.; Асадов, Ф.Г. (Фізика і хімія твердого тіла, 2023)
Листи поліетилену високої щільності (HDPE), композити HDPE/GaAs і HDPE/ GaAs<Te> з напівпровідниковими наповнювачами GaAs і GaAs<Te> досліджували методом рентгенівської дифрактометрії при кімнатній температурі. Розраховано ступінь кристалізації цих зразків і встановлено, що включення до полімерної матриці наповнювачів (х=1-10% складу) призводить до збільшення ступеня кристалізації в 1,3-1,4 рази. Отримані результати пояснюються зміною високої молекулярної структури полімеру.