Simulation the spectral dependence of the transmittance for semiconductor thin films

Г. Ільчук; А. Кашуба; Р. Петрусь; І. Семків; Н. Українець

doi:10.15330/pcss.21.1.57-60

Автор(и)

Г. Ільчук Національний університет “Львівська політехніка”
А. Кашуба Національний університет "Львівська політехніка"
Р. Петрусь Національний університет “Львівська політехніка”
І. Семків Національний університет “Львівська політехніка”
Н. Українець Національний університет “Львівська політехніка”

DOI:

https://doi.org/10.15330/pcss.21.1.57-60

Ключові слова:

тонкі плівки, ширина забороненої зони, оптичні функції, пропускання, коефіцієнт відбивання

Анотація

Використовуючи умову інтерференційних екстремумів визначено спектральну залежність коефіцієнта пропускання, як функцію товщини плівки, показника заломлення підкладки, ширини забороненої зони та параметрів Коші (α і β) напівпровідникових тонких плівок. Проведено моделювання коефіцієнта пропускання для структури – тонка плівка/підкладка. В якості модельних зразків обрано халькогеніди кадмію (CdTe, CdSe та CdS) осаджені на кварцові підкладки. Коефіцієнт пропускання підкладки встановлено експериментально для визначення його показника заломлення. Проводиться порівняння теоретичних результатів із експериментальними даними та вказується на хорошу збіжність.

Посилання

L.I. Nykyruy, R.S. Yavorskyi, Z.R. Zapukhlyak, G. Wisz, P. Potera, Optical Materials 92, 319 (2019) (https://doi.org/10.1016/j.optmat.2019.04.029).

R. Swanepoel, J. Phys. E: Sci. Instrum. 16, 1214 (1983) (https://doi.org/10.1088/0022-3735/16/12/023).

J. Sanchez-Gonzalez, A. Diaz-Parralejo, A.L. Ortiz, F. Guiberteau, Appl. Surf. Sci. 252, 6013 (2006) (https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2005.11.009).

R. Yavorskyi, L. Nykyruy, G. Wisz, P. Potera, S. Adamiak, Sz. Górny, Applied Nanoscience 9, 715 (2018) (https://doi.org/10.1007/s13204-018-0872-z).

V.V. Brus, L.J. Pidkamin, S.L. Abashin, Z.D. Kovalyuk, P.D. Maryanchuk, O.M. Chugai. Optical Materials 34, 1940 (2012) (https://doi.org/10.1016/j.optmat.2012.06.007).

C. Baban, G.I. Rusu, P. Prepelita, Journal of Optoelectronics and Advanced Materials 7, 817 (2005).

W. Ming-Dong, Z. Dao-Yun, L. Yi, Z. Lin, Z. Chang-Xi, H. Zhen-Hui, C. Di-Hu, W. Li-Shi, Chin. Phys. Lett. 25, 743 (2008) (https://doi.org/10.1088/0256-307X/25/2/106).

N. Bouchenak Khelladi, N.E. Chabane Sari, Advances in Materials Science 13, 21 (2013) (doi:10.2478/adms-2013-0003).

P. Lucas, Optical materials. Measurement of optical properties of solids (Encyclopedia of Modern Optics, Elsevier, 2004).

R.Yu. Petrus, H.A. Ilchuk, A.I. Kashuba, I.V. Semkiv, E.O. Zmiiovska, R.M. Lys, Physics and Chemistry of Solid State 20, 367 (2019) (https://doi.org/10.15330/pcss.20.4.367-371).

R.Yu. Petrus, H.A. Ilchuk, A.I. Kashuba, I.V. Semkiv, E.O. Zmiiovska, F.M. Honchar, J. App. Spectr. 87, 46 (2020).

R.Yu. Petrus, H.A. Ilchuk, A.I. Kashuba, I.V. Semkiv, E.O. Zmiiovska, Optics and Spectroscopy 126, 220 (2019) (https://doi.org/10.1134/S0030400X19030160).

H.A. Ilchuk, R.Y. Petrus, A.I. Kashuba, I.V. Semkiv, E.O. Zmiiovska, Nanosistemi, Nanomateriali, Nanotehnologii 16, 519 (2018).

G.A. Il’chuk, R.Yu. Petrus, A.I. Kashuba, I.V. Semkiv, E.O. Zmiiovs’ka, Optics and Spectroscopy 128, 50 (2020).