Концентраційні та розмірні ефекти в електрофізичних властивостях тонких плівок на основі пермалою та срібла
DOI:
https://doi.org/10.15330/pcss.21.2.238-242Ключові слова:
тонка плівка, питомий опір, температурний коефіцієнт опору, розмірний ефект, концентраційний ефектАнотація
У роботі було проведено комплексне дослідження структурно-фазового стану та електрофізичні властивості тонко плівкових зразків на основі феромагнітного сплаву пермалою Ni80Fe20 та немагнітного металу Ag для широкого діапазону концентрації та у діапазоні товщин 20-100 нм. Для осадження тонкоплівкових систем був використаний метод одночасної електронно-променевої конденсації за кімнатної температури. Хімічний склад і співвідношення концентрацій елементів контролювалися методом енергодисперсійного аналізу. Дослідження фазового складу зразків проводилося методами електронографії. Було показано, що фазовий стан плівкових систем залишається незмінним у процесі відпалювання до 500 К. Отримані концентраційні та розмірні залежності питомого опору та температурного коефіцієнту опору. Показано, що на концентраційних залежностях питомого опору та термічного коефіцієнту опору спостерігаються відповідні максимум і мінімум при концентрації немагнітної компоненти 50-60 aт.%. Характер розмірних залежностей питомого опору і термічного коефіцієнту опору пов'язаний з проявом розмірного ефекту у тонкоплівкових матеріалах.
Посилання
Ku Hoon Chung, Si Nyeon Kim, Sang Ho Lim, Thin Solid Films 650, 44 (2018) (https://doi.org/10.1016/j.tsf.2018.01.062).
A. Fert, F. N. Van Dau, Comptes Rendus Physique 20(7-8), 817 (2019) (https://doi.org/10.1016/j.crhy.2019.05.020)
I. M. Pazukha, Y. O. Shkurdoda, A. M. Chornous, L. V. Dekhtyaruk, International Journal of Modern Physics B 33, 1950113 (2019) (https://doi.org/10.1142/S0217979219501133)
L. V. Odnodvorets, I. Yu. Protsenko, Yu. M. Shabelnyk, M. O. Shumakova, O. P. Tkach, Journal of Nano- and Electronic Physics 8(3), 03034 (2016) (https://doi.org/10.21272/jnep.8(3).03034).
S. Kumaraguru, R. Pavulraj, J. Vijayakumar, S. Mohan, S. Kumaraguru, R. Pavulraj, J. Vijayakumar, S. Mohan 693, 1143 (2017) (https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2016.10.027).
Qian Liu, Shaolong Jiang, Jiao Teng, Journal of Magnetism and Magnetic Materials 454, 264 (2018) (https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2018.01.098).
Umesh P. Borole, Sasikala Subramaniam, Ishan R. Kulkarni, P. Saravanan, Harish C. Barshilia, P. Chowdhury, Sensors and Actuators A: Physical 280, 125 (2018) (https://doi.org/10.1016/j.sna.2018.07.022).
Arnab Roy, P. Sampathkumar, P. S. Anil Kumar, Measurement 156, 107590 (2020) (https://doi.org/10.1016/j.measurement.2020.107590).
I. M. Pazukha, D. O. Shuliarenko, O. V. Pylypenko, L. V. Odnodvorets, Journal of Magnetism and Magnetic Materials 485, 89 (2019) (https://doi.org/10.1016/j.jmmm.2019.04.079).
Yuan-Tsung Chen, Jiun-Yi Tseng, S. H. Lin, T. S. Sheu, Journal of Magnetism and Magnetic Materials 360, 87 (2014) (http://dx.doi.org/10.1016/j.jmmm.2014.02.005)
Guowen Ding, César Clavero, Daniel Schweigert, Minh Le, AIP Advances 5, 117234 (2015) (http://dx.doi.org/10.1063/1.4936637).
H. Y. Wan, X.M.Luo, X. Li, W. Liu, G. P. Zhang, Materials Science and Engineering A 676, 421 (2016) (http://dx.doi.org/10.1016/j.msea.2016.09.010).
Gesche Nahrwold, Jan M. Scholtyssek, Sandra Motl-Ziegler, Ole Albrecht, Ulrich Merkt, Guido Meier, Journal of Applied Physics 108, 013907 (2010) (https://doi.org/10.1063/1.3431384)
C.R.Tellier, A.J.Tosser, Size effects in thin films (Elsivier, 1982) (https://doi.org/10.1016/B978-0-444-42106-7.50005-X).
##submission.downloads##
Опубліковано
Як цитувати
Номер
Розділ
