Modeling the Bimodal Behavior of Self-Repairing Optical Window Systems Prone to Brittle Failure

О.Л. Капітанчук; В.І. Тесленко

doi:10.15330/pcss.20.3.269-274

Автор(и)

О.Л. Капітанчук Інститут теоретичної фізики ім. М.М. Боголюбова
В.І. Тесленко Інститут теоретичної фізики ім. М.М. Боголюбова, Національна Академія Наук України

DOI:

https://doi.org/10.15330/pcss.20.3.269-274

Ключові слова:

оптично прозорі системи, крихкість, схильність до руйнування, конкурентна перевага

Анотація

Проблема моделювання бімодальної поведінки прозорих матеріалів, що можуть бути представленими у вигляді деяких самовідновлювальних оптичних систем, схильних до крихкого руйнування, розглядається кількісно з використанням точного розв’язку для заселеності перехідного стану тристадійного абсорбуючого ланцюга Маркова. Показано, що зсимульовані густини розподілів максимальних ймовірностей руйнування можуть добре описувати експериментальні данні з біаксіального розтягнення керамік OFG, CVD-ZnSe і сапфіру в а-площині. Зроблено висновок, що конкурентна перевага цих матеріалів росте пропорційно ширині їх розподілів.

Посилання

D.N.P. Murthy, M. Xie and R. Jiang, Weibull Models (John Wiley& Sons, New York, 2004).

B. Novakovic and I. Knezevic, Quantum master equations in electronic transport, in: Nano-Electronic Devices: Semiclassical and Quantum Transport Modeling, edited by D. Vasileska and S. M. Goodnic (Springer, New York, 2011). P. 249.

K.S. Trivedi, Probability and Statistics with Reliability, Queuing, and Computer Science Applications (John Wiley & Sons, Hoboken, NJ, 2016).

D.M. Nicol, W.H. Sanders and K.S. Trivedi, IEEE Trans. Depend. Secure Comput. 1, 48 (2004) (https://doi.org/10.1109/TDSC.2004.11).

M.I. Puterman, Markov Decision Processes: Discrete Stochastic Dynamic Programming (Wiley, Hoboken, NJ, USA, 2014).

O.L. Kapitanchuk, O.M. Marchenko and V.I. Teslenko, Chem. Phys. 472, 249 (2016) (https://doi.org/10.1016/j.chemphys.2016.03.007).

H. Fisher, Nat. Sci. 2, 873-901 (2010) (https://doi.org/10.4236/ns.2010.28110).

U. Lafont, H. van Zeijl and S. van der Zwaag, Microelectronics Reliab. 52, 71 (2012).

C.A. Klein, Proc. SPIE 7504, 75040K (2009) (https://doi.org/10.1117/12.836920).

H. Frauenfelder and P.G. Wolynes, Science 229, 337 (1985) (https://doi.org/10.1126/science.4012322).

O.V. Rudenko, Usp. Fiz. Nauk 176, 77 (2006). [Phys. Usp. 49, 69 (2006).]

V.I. Teslenko, O.L. Kapitanchuk and Y. Zhao, Chin. Phys. B 24, 028702 (2015) (https://doi.org/10.1088/1674-1056/24/2/028702).

E. Petrov and V. Teslenko, Nanobiophysics: Fundamentals and Applications, edited by V. A. Karachevtsev, chapter 9, p.267 (Pan Stanford Publishing, Singapore, 2016) (https://doi.org/10.1201/b20480).

J.P. Berry, Nature 212, 20 (1966) (https://doi.org/10.1038/212020a0).

B. Tsoi, E. M. Kartashov and V. V. Shevelev, The Statistical Nature of Strength and Lifetime in Polymer Films and Fibers (VSP, Zeist, The Netherlands, 2004). [B. Tsoi, É. M. Kartashov and V. V. Shevelev, Strength and Fracture of Polymer Films and Fibers (Khimiya, Moscow, 1999)].

C.A. Klein, Opt. Eng. 50(2), 023402 (2011) (https://doi.org/10.1117/1.3541804).

C.A. Klein and R. P. Miller, Proc. SPIE 4375, 2411 (2001) (https://doi.org/10.1117/12.439181).

CA. Klein, J. Appl. Phys. 96, 3172 (2004) (https://doi.org/10.1063/1.1782272).

C. A. Klein, Proc. SPIE 8016, 80160J (2011) (https://doi.org/10.1117/12.883019).

V.I. Teslenko and O.L. Kapitanchuk, Mod. Phys. Lett. B 32, 1850022 (2018)

(https://doi.org/10.1142/S0217984918500227).

A.N. Gorban, Entropy 16, 2408-2432 (2014) (https://doi.org/10.3390/e16052408).

V. I. Teslenko and O. L. Kapitanchuk, J. Phys. Stud. 19, 1001 (2015).

V.I. Teslenko and O. L. Kapitanchuk, Acta Phys. Polon. 49, 1581 (2018) (https://doi.org/10.5506/APhysPolB.49.1581).

C.A. Klein, Opt. Eng. 37, 2826 (1998) (https://doi.org/10.1117/1.601820).