Synthesis and Electrical Properties of Ag8SnSe6 Argyrodite  Thin Films

І.В. Семків; Н.А. Українець; В.В. Кусьнеж; Е.О. Змійовська; Р.Ю. Петрусь; Г.А. Ільчук; Т.О. Дубів

doi:10.15330/pcss.18.1.78-83

Автор(и)

І.В. Семків Національний університет “Львівська політехніка”
Н.А. Українець Національний університет “Львівська політехніка”
В.В. Кусьнеж Національний університет “Львівська політехніка”
Е.О. Змійовська Національний університет “Львівська політехніка”
Р.Ю. Петрусь Національний університет “Львівська політехніка”
Г.А. Ільчук Національний університет “Львівська політехніка”
Т.О. Дубів Львівський національний університет імені Івана Франка

DOI:

https://doi.org/10.15330/pcss.18.1.78-83

Ключові слова:

аргіродит, рентгенівська дифрактометрія, електрохімічна комірка, імпедансна спектроскопія, резистивне перемикання

Анотація

Проведено синтез тонких плівок аргіродиту Ag₈SnSe₆ товщиною 500 нм за допомогою температурної витримки плівок Ag-Sn в парах елементарного селену при температурі 480 ^oC. Проведено рентгеноструктурні дослідження отриманих плівок показали утворення потрійної сполуки Ag₈SnSe₆ у орторомбічній фазі з параметрами кристалічної гратки a = 7,9081(6) Å, b = 7,8189(7) Å, c = 11,0464(9) Å,
V = 683,03(10) Å³. Створено комірку резистивного перемикання на основі плівки Ag₈SnSe₆ з срібним та склографітовим електродами. Проведено дослідження електричних параметрів комірки методами імпедансної спектроскопії та циклічної вольтамперометрії. Ці дослідження дозволили змоделювати комірку та процеси, що відбуваються за допомогою електричної еквівалентної схеми та показати наявність явища резистивного перемикання при певних прикладених напругах.

Посилання

[1] R. Waser and M. Aono, Nature Materials 6, 833 (2007).
[2] A. Sawa, Materials Today 11, 28 (2008).
[3] R. Waser, R. Dittmann, G. Staikov and K. Szot., Adv. Mater. 21, 2632 (2009).
[4] Z. Guo, M.-Q. Li, J.-H. Liu, and X.-J. Huang, Small, 11(47), 6285 (2015).
[5] K. Terabe, T. Hasegawa, T. Nakayama, M. Aono, Nature 433, 47 (2005).
[6] M. Mitkova, M.N. Kozicki, J. Non-Cryst. Solids 299-302, 1023 (2002).
[7] M. Mitkova, M.N. Kozicki, H.C. Kim, T.L. Alford, Thin Solid Films 449, 248 (2004).
[8] M.N. Kozicki, M. Park, M. Mitkova, IEEE T-NANO 4, 331 (2005).
[9] Patent No 111131 Ukraine, M.V.Cheylo et.al. Reg. No a201406222; publ. 10.11.2016, Bul. No 21.
[10] K.-W. Cheng, Y.-H. Wu, T.-H. Chiu, Journal of Power Sources 307, 329 (2016).
[11] Y. Shi, H. Li and L.-J. Li, Chem. Soc. Rev. 44, 2744 (2015).
[12] K.-W. Cheng, C.-H. Yeh, International Journal of Hydrogen Energy 37, 13638 (2012).
[13] F. O. Adurodija, J. Song, S.D. Kim, S. H. Kwon, S. K. Kim, K. H. Yoon, B. T. Ahn, Thin Solid Films 338, 13 (1999).
[14] І. V. Semkiv, А. І. Kashuba, H. A. Ilchuk, M. V. Chekaylo, Physics and Chemistry of Solid State, 16(2), 257 (2015).
[15] I. V. Semkiv, B. A. Lukiyanets, H. A. Ilchuk, R. Yu. Petrus, A. I. Kashuba, M. V. Chekaylo, Journal of Nano- and Electronic Physics 8(1), 01011 (2016).
[16] І. V. Semkiv, Physics and Chemistry of Solid State, 17(3), 346 (2016).
[17] I. V. Semkiv, H. A. Ilchuk, A. I. Kashuba, R. Yu. Petrus, V. V. Kusnezh, Journal of Nano- and Electronic Physics 8(3), 03005 (2016).
[18] S. V. Syrotyuk, I. V. Semkiv, H. A. Ilchuk, V. M. Shved, Condensed Matter Physics 19(4), 43703 (2016).
[19] I. Karakaya and W. T. Thompson, Bull. Alloy Phase Diagrams 8, 340 (1987).
[20] STOE & Cie GmbH, WinXPOW 3.03, Powder Diffraction Software Package, Darmstadt, Germany, 2010.
[21] R. A. Young, IUCr Monographs on Crystallography (Oxford University Press, New York, 1993).
[22] J. Rodriguez-Carvajal, Newsletter 26, 12 (2001).
[23] T. Roisnel, J. Rodriguez-Carvajal, Mater. Sci. Forum, 118, 378 (2001).
[24] L. D. Gulay, I. D. Olekseyuk, O. V. Parasyuk, J. Alloys Compd. 339, 113 (2002).
[25] R. Waser, I. Valov. ECS Transactions 25(6), 431 (2009).
[26] K. J. Yoon, M. H. Lee, G. H. Kim, S. J. Song, J. Y. Seok, S. Han, J. H. Yoon, K. M. Kim and C. S. Hwang, Nanotechnology 23, 185202 (2012).